鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀特點
實用特點一：0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。
實用特點二：市面上的鍍層測厚儀，在使用時都是需要校準的，但林上的鍍層測厚儀LS223，無需校準，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開始測量。
實用特點三：儀器只有一個按鍵，省去繁瑣操作，測量更加的簡單。
實用特點四：測頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。
實用特點五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測試精度，即使溫度變化也不受影響。
實用特點六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設(shè)計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

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