鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。

鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發開機，并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，并且自動轉換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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